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出版日期


2024年 (1)

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平裝 (1)

作者


日本可靠性技術叢書編輯委員會 (1)

出版社/品牌


機械工業出版社 (1)

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半導體器件缺陷與失效分析技術精講(簡體書)
滿額折

1.半導體器件缺陷與失效分析技術精講(簡體書)

作者:日本可靠性技術叢書編輯委員會  出版社:機械工業出版社  出版日:2024/02/01 裝訂:平裝
本書共分為4章,內容包括半導體器件的缺陷、失效分析技術概要,矽集成電路(LSI)的失效分析技術,功率器件的缺陷、失效分析技術,化合物半導體發光器件的缺陷、失效分析技術。筆者在書中各處開設了專欄,用以介紹每個領域的某些方面。在第2-4章的末尾各列入了3道例題。這些例題出自日本科學技術聯盟主辦的“初級可靠性技術者”資格認定考試,題型為5選1。
定價:594 元, 優惠價:87 517
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