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半導體器件缺陷與失效分析技術精講（簡體書）
- 系列名：圖解入門
- ISBN13：9787111749622
- 出版社：機械工業出版社
- 作者：日本可靠性技術叢書編輯委員會
- 裝訂／頁數：平裝／168頁
- 規格：24cm*17cm (高/寬)
- 出版日：2024/02/01
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商品簡介
商品簡介
本書共分為4章，內容包括半導體器件的缺陷、失效分析技術概要，矽集成電路(LSI)的失效分析技術，功率器件的缺陷、失效分析技術，化合物半導體發光器件的缺陷、失效分析技術。筆者在書中各處開設了專欄，用以介紹每個領域的某些方面。在第2-4章的末尾各列入了3道例題。這些例題出自日本科學技術聯盟主辦的“初級可靠性技術者”資格認定考試，題型為5選1。
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