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商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Yung-Li Lee (EDT)/ Jwo Pan/ Richard B. Hathaway/ Mark E. Barkey (1)
出版社/品牌

Butterworth-Heinemann (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
Fatigue Testing and Analysis: Theory and Practice
作者:Yung-Li Lee (EDT); Jwo Pan; Richard B. Hathaway; Mark E. Barkey  出版社:Butterworth-Heinemann  出版日:2004/07/29 裝訂:精裝
This book is a summary of experimental and analytical techniques that are essential to students and practicing engineers for conducting mechanical component design and testing for durability. There
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