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原文書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Jose A. Gutierrez/ Brian S. R. Armstrong (1)
出版社/品牌

Springer-Verlag New York Inc (1)

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1筆商品,1/1頁
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry ― Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
作者:Jose A. Gutierrez; Brian S. R. Armstrong  出版社:Springer-Verlag New York Inc  出版日:2007/11/01 裝訂:精裝
This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

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