TOP
0
0
【簡體曬書區】 單本79折,5本7折,活動好評延長至5/31,趕緊把握這一波!

縮小範圍


商品類型


簡體書 (1)

商品狀況


可訂購商品 (1)

庫存狀況


無庫存 (1)

商品定價


$400~$599 (1)

出版日期


2018~2019 (1)

裝訂方式


平裝 (1)

作者


李法新、周錫龍、付際 (1)

出版社/品牌


科學出版社 (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
納米力學測試新方法:掃描探針聲學顯微術(簡體書)
滿額折

1.納米力學測試新方法:掃描探針聲學顯微術(簡體書)

作者:李法新; 周錫龍; 付際  出版社:科學出版社  出版日:2019/02/26 裝訂:平裝
本書從AFAM的力學基礎-接觸力學出發,闡述了AFAM的原理和基礎、準確度和靈敏度、粘彈性成像,以及AFAM的廣泛應用。此外,還對正在興起的多頻原子力顯微術進行了介紹。本書的內容安排如下:第一章緒論簡要介紹當前主要的納米力學測試方法,以及AFAM的發展歷史和研究現狀。第二章首先對接觸力學的基本理論進行介紹,隨後介紹納米壓痕技術的測試原理和應用。第三章詳細介紹原子力顯微鏡的基本原理和應用模式。第四章
定價:468 元, 優惠價:87 407
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天

暢銷榜

客服中心

收藏

會員專區