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$800以上 (1)

出版日期


2022~2023 (1)

裝訂方式


平裝 (1)

作者


陳偉、何寶平、姚志斌、馬武英 (1)

出版社/品牌


科學出版社 (1)

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半導體器件電離輻射總劑量效應(簡體書)
滿額折

1.半導體器件電離輻射總劑量效應(簡體書)

作者:陳偉; 何寶平; 姚志斌; 馬武英  出版社:科學出版社  出版日:2022/10/01 裝訂:平裝
輻射在半導體器件中電離產生電子-空穴對,長時間輻射劑量累積引起半導體器件電離輻射總劑量效應。電離輻射總劑量效應是輻射效應中最常見的一種,可以導致器件性能退化,閾值電壓漂移、遷移率下降、動態和靜態電流增加,甚至功能失效,在輻射環境中工作的半導體器件和電子系統必須考慮的總劑量效應問題。本書主要介紹電離輻射環境與效應、體矽CMOS工藝器件和SOI工藝器件電離總劑量效應、雙極工藝器件低劑量率輻射損傷增強效應、總劑量效應數值模擬和試驗方法、總劑量效應預估模型與方法、納米器件總劑量效應與可靠性、系統級總劑量效應模擬試驗方法等內容。
定價:810 元, 優惠價:87 705
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