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Alain Abran (EDT)/ Rene Braungarten (EDT)/ Reiner R. Dumke (EDT)/ Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT)/ Jacob Brunekreef (EDT) （1）

Andrzej Kobylinski (EDT)/ Beata Czarnacka-chrobot (EDT)/ Jaroslaw Swierczek (EDT) （1）

Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT)/ Rene Braungarten (EDT)/ Reiner R. Dumke (EDT)/ Alain Abran (EDT) （1）

Reiner R. Dumke (EDT)/ Rene Braungarten (EDT)/ Gunter Bnren (EDT)/ Alain Abran (EDT)/ Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT) （1）

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Software Process and Product Measurement

作者：Alain Abran (EDT); Rene Braungarten (EDT); Reiner R. Dumke (EDT); Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT); Jacob Brunekreef (EDT) 出版社：Springer-Verlag New York Inc 出版日：2009/11/28 裝訂：平裝

This book constitutes the refereed proceedings of two joint events - the International Workshop on Software Measurement, IWSM 2009 and the International Conference on Software Process and Product Meas

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Software Process and Product Measurement ─ International Conference, IWSM-Mensura 2007, Palma De Mallorca, Spain, November 5-8, 2007, Revised Papers

作者：Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT); Rene Braungarten (EDT); Reiner R. Dumke (EDT); Alain Abran (EDT) 出版社：Springer-Verlag New York Inc 出版日：2008/09/01 裝訂：平裝

This book constitutes the thoroughly refereed post-proceedings of the International Workshop on Software Measurement, IWSM-Mensura 2007, held in Palma de Mallorca, Spain, in November 2007.The 16 revis

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Software Measurement ― 25th Internatinoal Workshop on Software Measurement and 10th International Conference on Software Process and Product Measurement, Iwsm-mensura 2015

作者：Andrzej Kobylinski (EDT); Beata Czarnacka-chrobot (EDT); Jaroslaw Swierczek (EDT) 出版社：Springer-Verlag New York Inc 出版日：2015/12/25 裝訂：平裝

This book constitutes the refereed proceedings of two joint events: the 25th International Workshop on Software Measurement (IWSM) and the 10th International Conference on Software Process and Product

定價：3240 元，優惠價：9 2916

無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)

Software Process and Product Measurement ─ International Conferences IWSM 2008, MetriKon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings

作者：Reiner R. Dumke (EDT); Rene Braungarten (EDT); Gunter Bnren (EDT); Alain Abran (EDT); Juan J. Cuadrado-Gallego (EDT) 出版社：Springer-Verlag New York Inc 出版日：2008/12/01 裝訂：平裝

This book constitutes the refereed proceedings of three joint events - the International Workshop on Software Measurement, IWSM 2008, the DASMA Metrik Kongress, Metrikon 2008, and the International Co

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