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2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

M. K. Miller/ A. Cerezo/ M. G. Hetherington/ G. D. W. Smith (1)
出版社/品牌

Oxford Univ Pr on Demand (1)

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Atom Probe Field Ion Microscopy
作者:M. K. Miller; A. Cerezo; M. G. Hetherington; G. D. W. Smith  出版社:Oxford Univ Pr on Demand  出版日:1996/11/28 裝訂:精裝
The atom probe technique permits the imaging and chemical identification of individual and solid surfaces. It is one of the most important experimental methods in the emerging field of atomic-scale sc
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02-25006600[分機130、131]。

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