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165反詐騙

即日起~6/30，暑期閱讀書展，好書7折起

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商品類型
簡體書 （4）
商品狀況
可訂購商品 （3）
無法訂購商品 （1）
庫存狀況
無庫存 （4）
商品定價
$199以下 （1）
$200~$399 （1）
$400~$599 （1）
$800以上 （1）
出版日期
2018~2019 （2）
2016~2017 （1）
2016年以前 （1）
裝訂方式
平裝 （4）
作者
靳松、韓銀和 （2）
崔世民、劉梅麗、靳松 （1）
靳松、閻世鑫、佟小光 （1）
出版社/品牌
人民衛生出版社 （2）
清華大學出版社（大陸） （2）

三民網路書店 / 搜尋結果

共4筆商品，1/1頁
納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化（簡體書）
1.

納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化（簡體書）

作者：靳松; 韓銀和  出版社：清華大學出版社(大陸)  出版日：2012/06/01 裝訂：平裝
《納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化》的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應--負偏置溫度不穩定性 （nbti）。介紹了nbti效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響。從提高nbti效應影響下電路可靠性的角度，論述了相應的硅前分析、在線預測和優化方法。 《納米數字集成電路老化效應：分析、預測及優化》可為從事大規模數字集成電路可靠性設計及容錯計算方向研究的科技人員
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納米數字集成電路的偏差效應分析與優化：從電路級到系統級（簡體書）
滿額折
2.

納米數字集成電路的偏差效應分析與優化：從電路級到系統級（簡體書）

作者：靳松; 韓銀和  出版社：清華大學出版社(大陸)  出版日：2019/06/11 裝訂：平裝
本書主要涉及在納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應――負偏置溫度不穩定性和製造過程中引起的參數偏差。介紹了參數偏差效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響，並提出了從電路級到系統級的相應的分析、預測和優化方法。
定價：414 元， 優惠價：87 360
海外經銷商無庫存，到貨日平均30天至45天
腦磁共振(MRI)局部解剖與功能圖譜(第2版)（簡體書）
滿額折
3.

腦磁共振(MRI)局部解剖與功能圖譜(第2版)（簡體書）

作者：崔世民; 劉梅麗; 靳松  出版社：人民衛生出版社  出版日：2019/08/21 裝訂：平裝
定價：828 元， 優惠價：87 720
海外經銷商無庫存，到貨日平均30天至45天
腦血管疾病數字減影血管造影(DSA)與計算機斷層成像血管造影(CTA)診斷 （簡體書）
滿額折
4.

腦血管疾病數字減影血管造影(DSA)與計算機斷層成像血管造影(CTA)診斷 （簡體書）

作者：靳松; 閻世鑫; 佟小光  出版社：人民衛生出版社  出版日：2017/11/17 裝訂：平裝
本書是主要以DSA和CTA影像學技術和圖片介紹腦血管影像解剖和疾病診斷的著作。分為兩部分，第一部分為腦血管影像解剖，包括；頸內動脈分段與分支、前循環-大腦前動脈、大腦中動脈、基底動脈環、後循環-大腦後動脈、椎-基底動脈、頸外動脈，幕上靜脈系統、幕下靜脈系統。第二部分介紹腦血管的影像診斷，包括；腦血管動脈硬化、腦動脈瘤、腦動靜脈畸形、腦缺血性腦血管病（如煙霧病等）、海綿竇瘺（包括外傷性和自發性）、硬
定價：288 元， 優惠價：87 251
海外經銷商無庫存，到貨日平均30天至45天
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