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165反詐騙

即日起~6/30，暑期閱讀書展，好書7折起

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商品類型
簡體書 （1）
商品狀況
可訂購商品 （1）
庫存狀況
無庫存 （1）
商品定價
$200~$399 （1）
裝訂方式
平裝 （1）
作者
(美)桑迪普‧K.戈埃爾、(印度)科瑞申恩度‧查克拉巴蒂 （1）
出版社/品牌
機械工業出版社 （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共1筆商品，1/1頁
納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測（簡體書）
滿額折
1.

納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測（簡體書）

作者：(美)桑迪普‧K.戈埃爾; (印度)科瑞申恩度‧查克拉巴蒂  出版社：機械工業出版社  出版日：2016/01/01 裝訂：平裝
設計方法和工藝技術的革新使得集成電路的復雜度持續增加。現代集成電路（IC）的高復雜度和納米尺度特征極易使其在制造過程中產生缺陷，同時也會引發性能和質量問題。本書包含了測試領域的許多常見問題，比如制程偏移、供電噪聲、串擾、電阻性開路/電橋以及面向制造的設計（DfM）相關的規則違例等。本書也旨在講述小延遲缺陷（SDD）的測試方法，由于SDD能夠引起電路中的關鍵路徑和非關鍵路徑的瞬間時序失效，對其的研究
定價：359 元， 優惠價：87 312
海外經銷商無庫存，到貨日平均30天至45天
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