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商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2020~2021 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

(英)約翰‧C.維克曼、(英)伊恩‧S.吉爾摩 (1)
出版社/品牌

中山大學出版社(大陸) (1)

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表面分析技術(簡體書)
滿額折
作者:(英)約翰‧C.維克曼; (英)伊恩‧S.吉爾摩  出版社:中山大學出版社(大陸)  出版日:2020/12/01 裝訂:精裝
本書介紹表面分析主要技術,包括俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、二次離子質譜、低能粒子散射和盧瑟福背散射技術、表面分子振動光譜技術以及擴展X射線吸收精細結構和掃描隧道顯微技術、原子力顯微技術等。本書主要闡述上述表面分析技術的基本原理和實用樣品實例分析,每章結尾處還附有相關的分析練習題供讀者訓練,判斷自己對書中知識內容掌握的程度。
定價:1200 元, 優惠價:87 1044
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