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Ｘ射線熒光分析法

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1.X射線熒光光譜分析(第三版)（簡體書）

作者：羅立強 出版社：化學工業出版社 出版日：2023/08/01 裝訂：平裝

《X射線熒光光譜分析》（第三版）系統闡述了X射線熒光光譜 (XRFS)和X射線吸收光譜（XAS）分析基本原理，描述了XRFS光譜儀主要組件與功能，介紹了XRFS定性與定量分析方法、元素基體校正理論模型和算法、樣品製備技術、儀器基本特性和儀器日常維護技術。同時，還根據XRFS的發展，介紹了μ子X射線光譜、同步輻射與微區X射線光譜分析原理與應用，強調了X射線光譜分析技術在解決重大科學問題中的支撐作用，並給出了其在生態與環境、地質、冶金、半導體材料、生物、考古等領域的研究進展與應用實例。本書可供X射線熒光光譜分析工作者學習參考,同時也可作為高等學校分析化學、分析儀器及相關專業師生的參考書。

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2.X射線螢光光譜分析(第2版)（簡體書）

作者：羅立強; 詹秀春; 李國會 出版社：化學工業出版社 出版日：2022/09/22 裝訂：精裝

本書系統闡述了X射線螢光光譜分析（XRFS）基本原理，介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件，特別是X射線激發源和X射線探測器的工作原理，強調了新型X射線激發源和探測器如聚焦毛細管X射線透鏡、矽漂移探測器和超導探測器等的研究進展和特徵性能。對開展XRFS分析所需的定性與定量分析方法、元素間基體校正、化學計量學計算等做了較詳細的描述，評介了各方法的特點、局限及選用原則。在XRFS分析中，樣品製備技術具有

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3.實用X射線光譜分析（簡體書）

作者：高新華 出版社：化學工業出版社 出版日：2022/02/01 裝訂：平裝

本書是現代X射線光譜分析綜合性參考書。全書共分十七章，系統介紹X射線的物理基礎，基本性質，激發，色散，探測與測量，波長色散與能量色散光譜儀，基體效應，光譜背景和譜線重疊，樣品制備，定性與半定量分析，實驗校正法，數學校正法定量分析，薄膜和鍍層厚度分析，應用實例及分析誤差與不確定度等內容。附錄列舉了X射線熒光光譜分析常用的物理常數，相關數據等，供讀者參考使用。本書適用于冶金，地質，礦山，建材，檢驗檢疫

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4.X熒光勘查技術及其在地質找礦中的應用（簡體書）

作者：週四春 出版社：科學出版社 出版日：2020/09/22 裝訂：平裝

X熒光勘查技術是現場X熒光測試技術與地球化學理論相結合的成果。該技術應用手提式X熒光儀器為設備，現場快速捕獲找礦信息，並依據地球化學理論剖析捕獲的找礦信息，以期實現對目標礦產的探尋。該技術的特點是能實時現場獲取找礦信息，對肉眼無法區分的找礦信息可以定性甚至定量，可顯著縮短找礦週期。本書在系統介紹X熒光勘查技術的物理與地球化學基礎、野外工作方法、數據處理與分析解釋的基礎上，給出了在Sr、Au、Cu、

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5.中國X射線熒光光譜分析文獻索引（簡體書）

作者：鄧賽文 出版社：科學出版社 出版日：2020/06/05 裝訂：精裝

本書收集了中國期刊網上檢索的從1960～2015年發表的X射線光譜分析期刊文獻8534篇，相關兄弟單位提供的補充文獻(外文)150篇，早期文集文獻49篇，專(譯)著25部，共計8758條。這些文獻被編排成六個索引：按年代編排的期刊文獻年代索引、部分外刊及中刊外文版文獻年代索引、文集文獻索引、專(譯)著索引，按技術方法及應用領域編排的中刊文獻專題索引(分為7個技術方法專題和6個應用領域專題)和作者索

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6.X射線熒光分析系列技術原理和應用（簡體書）

作者：庹先國 出版社：原子能出版社 出版日：2017/07/01 裝訂：平裝

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7.X射線螢光光譜的基本參數法（簡體書）

作者：卓尚軍; 陶光儀; 韓小元 出版社：上海科學技術出版社 出版日：2010/12/01 裝訂：精裝

《X射線熒光光譜的基本參數法》是X射線熒光光譜分析領域專門講述基本參數法的第一本書。書中，作者結合自己的研究成果和實踐經驗，系統而詳細地介紹了X射線熒光光譜分析中的基本參數法的基本原理、方法中用到的各種基本參數、理論熒光強度計算、散射對理論熒光強度的影響、多層膜樣品中熒光強度計算的問題、基本參數法的實現和應用實例，書末還列出了重要的基本參數。《X射線熒光光譜的基本參數法》可供從事X射線熒光光譜研究

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8.X射線熒光光譜分析（簡體書）

作者：吉昂 出版社：科學出版社 出版日：2003/03/01 裝訂：平裝

《X射線熒光光譜分析》系統地介紹了X射線熒光光譜分析的理論、測試技術和實際應用，以及近年來的重要進展。

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