單位根檢驗程序的改進研究(簡體書)
商品簡介
目次
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 研究背景
1.2 單位根檢驗穩健性和可靠性研究存在的問題
1.3 進一步研究ADF(DF)和PP檢驗可靠性的意義
1.4 研究思考及研究方法
1.5 本書結構及創新之處
2 DF單位根檢驗的勢及檢驗式的選擇
導言
2.1 DF單位根檢驗概述
2.2 Monte Carlo模擬試驗設計
2.3 DF檢驗的可靠性研究(一)
2.4 DF檢驗的可靠性研究(二)
2.5 DF檢驗程序的改進
2.6 小結
3 具有GARCH(1,1)-Normal-errors的單位過程DF檢驗的可靠性研究之一
導言
3.1 AR CH/GAR CH 模型評述
3.2 試驗設計
3.3 GARCH-Normal-errors對DF檢驗穩健性的影響
3.4 具有GARCH-Normal-errors的單位根過程DF檢驗的勢函數
3.5 F檢驗與k,T檢驗可靠性的比較
3.6 小結
4 具有GARCH(1,1)-Normal-errors的單位根過程DF檢驗的可靠性研究之二
導言
4.1 GARCH效應對檢驗式含有截距項和趨勢項的DF檢驗的影響
4.2 GARCH效應對檢驗式不含有截距項和趨勢項的DF檢驗的影響
4.3 GARCH效應對情形3中DF檢驗的影響
4.4 小結
5 其他GARCH類誤差項對DF檢驗的影響
6 ADF檢驗的穩健性和可靠性研究
7 PP檢驗的穩健性和可靠性研究
8 單位根檢驗原假設的設定及其應用研究
參考文獻
附錄一 Di ckey-Faller檢驗的臨界值表
附錄二 蒙特卡羅模擬試驗的matlab程序精選
附錄三 泛函中心極限定理(Functional Central Limit Theorem)
後記
主題書展
更多主題書展
更多書展本週66折
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大,除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態,其餘商品將正常出貨。
特別提醒:部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供,需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”,方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書,將向海外調貨:
海外有庫存之書籍,等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍,平均作業時間約60個工作天,然不保證確定可調到貨,尚請見諒。
為了保護您的權益,「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨,請在商品鑑賞期內寄回,且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。