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精裝 (1)

作者


Ben J. M. Ale (EDT)/ Ioannis A. Papazoglou (EDT)/ Enrico Zio (EDT) (1)

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Taylor & Francis (1)

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Reliability, Risk and Safety - Back to the Future

1.Reliability, Risk and Safety - Back to the Future

作者:Ben J. M. Ale (EDT); Ioannis A. Papazoglou (EDT); Enrico Zio (EDT)  出版社:Taylor & Francis  出版日:2010/08/25 裝訂:精裝
Reliability, Risk and Safety: Back to the Future covers topics on reliability, risk and safety issues, including risk and reliability analysis methods, maintenance optimization, human factors, and ris
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