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商品簡介
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本書為下冊，第9章討論了甚長基線干涉儀（VLBI）的特殊需求。第10章介紹了可見度函數與傅裡葉變換，並介紹了如何利用可見度函數導出射電圖像，對譜線觀測進行了討論。第11章討論了利用Clean反卷積算法、最大熵法、自適應定標和多頻合成等非線性技術改善射電圖像。第12章介紹了天體測量學和大地測量學中的精確觀測。第13章討論了導致射電干涉儀整體性能下降的因素。第14章介紹了Van Cittert-Zernike定理的驗證、空間相關、散射以及相干傳播。第15章討論了射電干擾對射電干涉儀的影響。最後一章介紹了一些相關的技術，包括強度干涉測量法、月掩星觀測和光學干涉測量等。
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