三民網路書店 中國圖書館分類法 / 數理科學和化學 / 晶體學 / X射線晶體學

《材料X射線分析技術》為工業和信息化部“十四五”規劃教材，主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中，結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內應力分析、點陣常數的測量與熱處理分析等；形貌分析技術即三維X射線顯微成像分析；成分分析技術包括特徵X射線能譜、X射線光電子能譜及X射線熒光光譜等。《材料X射線分析技術》研究和測試的材料主要包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、複合材料等。《材料X射線分析技術》對每章內容做了提綱式的小結，並附有適量的思考題。《材料X射線分析技術》採用一些作者尚未發表的圖，同時在實例分析中引入一些當前材料領域最新的研究成果。

本書系統講解了晶體學基礎知識、X射線衍射基本理論以及X射線衍射在晶體材料取向分析、應力分析、物相分析、織構分析等方面的應用。全書通過詳細的圖解對抽象的理論知識、重點和難點進行了詳細講解；對當代各種新技術、新方法做出了富有前瞻性的分析和介紹，力求幫助讀者能夠輕鬆愉快的學習。

《Olex2軟件單晶結構解析及晶體可視化》介紹單晶解析基礎理論，應用圖形界面化程序Olex2 為平臺，解析單晶結構。運用包括最通用和經典的 Direct Methods，Patterson Method 兩種算法，以及新發展的 Charge Flipping，Intrinsic Phasing，Structure Expansion 和 Dual Space 算法，展示新算法在解析結構方面的優勢。

隨著計算機科學的飛速發展，計算機模擬手段在新型功能材料的設計中發揮著重要作用。近年來，晶體結構預測方法作為探索新材料的途徑，在計算領域中的關注日益增加並展現出巨大的潛力。《結構預測在物理學中的應用》一書以作者多年的研究成果為基礎，結合國內外最新研究進展，梳理和總結了晶體結構預測方法在新型功能材料設計領域的研究現狀和應用。本書介紹了新型功能材料的研究現狀、晶體結構預測方法的應用和發展，並在此基礎上重點介紹了晶體結構預測在超硬材料、超導材料、儲能材料和光電材料設計中的應用。

《现代衍射方法》全面介绍了各种现代衍射方法，注重实践案例，特别是在原位测量方面，旨在使读者深入了解现代衍射技术的广泛应用，尤其是与当今材料科学的密切结合，在科学研究中发挥着日益强大的作用。 《现代衍射方法》共分四部分，第一部分是衍射揭示晶体结构信息，包括单晶结构解析(第1章)、粉末衍射全谱精修(第2章)和非晶、无序晶体、纳米晶的全散射分析(第3章)；第二部分是衍射材料微结构和缺陷分析，包括第4章的线形分析理论与技术，以及工程技术领域的实际应用，如第5、6章的应力衍射分析，特别是深度分布分析，第7章的取向织构衍射分析(包括X射线、同步辐射、中子、透射电子、背散射电子)，第8、9章侧重薄膜及表面的衍射分析；第三部分是物相的定性定量分析，介绍现代流行的Rietveld精修方法，即衍射全谱拟合(第10章)，以及这种方法在材料动力学研究中的具体应用(第11章)；第四部分主要涉及现代衍射的仪器装置，第12章介绍各类光源(同步辐射、中子和实验室光源)、衍射几何等，第13章介绍了衍射设备的检定和校验方法，第14章专门介绍同步辐射光源的应用，第15章是高能电子衍射，第16章对原位衍射测试中的主要问题做了点评和总结。

《粉末衍射法測定晶體結構(第2版)(套裝上下冊)》包括：《末衍射法測定晶體結構(第2版)(上冊)》和《末衍射法測定晶體結構(第2版)(下冊)》。晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。《粉末衍射法測定晶體結構(第2版)(套裝上下冊)》除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基本概念、x射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形

微積分從醞釀到萌芽，到建立、發展、完善，凝結著兩千多年來無數數學家的心血，可以說是美的交響樂。微積分之美，美在簡單、和諧、對稱、奇異，更美在原創。微積分之美，集多年教學經驗，探索微積分的數學藝術，培養莘莘學子對數學崇高的敬意：數學中有美、美中有數學；提升他們的創新創業能力，深入科技發展前沿，開啟用微積分改變人們看待宇宙方式的數學之旅，使學生相信數學與詩一樣，都充滿了人類的精神力量。本書主要內容有函

《博士論叢：單晶X射線衍射結構解析》面向廣大物質結構及晶體材料研究者，內容包括：應用X射線衍射解析單晶結構完整過程、無序結構精修、填寫CIF文件、檢測問題處理、CCDC號申請、物質結構理論以及如何用publCIF軟件編輯CIF文件等，是晶體學研究從理論到應用的不可多得的工具書。 《博士論叢：單晶X射線衍射結構解析》以多個數據為實例進行解析，用簡單易懂的語言配以大量圖片，將復雜的解析過程清晰地

要介紹一門技術，最合適的老師莫過於那些享有國際聲譽的專家，他們或是建立相關理論，或是提供了廣泛使用的工具。而這正是本書的最大優勢——主編和作者們就是這樣的一群專家。他們不僅闡釋了技術的概念和訣竅，而且討論了有關結果合理性的問題。本書在技術的篩選上提倡“重在實用，與時俱進”的原則，在內容的安排上講究“階梯”和“引路人”的效果，適合不同層次的、想運用粉末衍射技術來解決實際問題的讀者。

Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝和使用介面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射資料的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三

本教材在高中數學的基礎上，選擇平面解析幾何、一元微積分、基礎線性代數、初等概率統計等高等數學基本課程中最基本的內容，根據文科學生的特點加以適當組合和敘述，儘量弱化技術性和理論性的方面，適當增加了有關數學簡史、語言邏輯的介紹，適當展開相關的文化背景和內涵，期望文科學生能在學習基本方法和理論的同時，注重感悟數學的思維、理念和精神，以達到提高能力、提升素質的目的。

本書系統地介紹了多晶X射線衍射技術的原理、儀器、方法和應用。全書內容循序漸進，在介紹X射線的物理基礎、射線強度檢測技術及其發展、晶體和晶體衍射的理論知識基礎上，著重闡述了X射線衍射儀器和多晶衍射儀的原理，詳細論述了如何獲得正確的衍射數據、如何評估衍射實驗數據的可信度以及儀器的工作狀態等實驗技術問題。之后，又在物相分析、晶面間距或晶胞參數精測、峰形分析三方面深入介紹了多晶衍射數據在各方面的實際應

本書在第一版基礎上修訂而成，全書共11章。第1～8章，內容包括：晶體衍射研究的發展、晶體結構的對稱性、晶體的衍射方向和倒易點陣、衍射強度和結構因子、電子密度函數的計算和精修、生物大分子晶體的衍射、多晶衍射和晶體結構數據的應用等，涉及化學、物理、數學、生物、電子學等多個基礎學科，為讀者提供簡明易懂、條理清晰的基礎知識和原理的介紹，同時提供了研究實例與原理結合進行具體分析。第9～11章，內容包括：準晶

《多晶材料X射線衍射——實驗原理方法與應用》由黃繼武和李周編著，內容分為4部分：(1)數據測量方法：介紹了粉末X射線衍射實驗設備、樣品制備方法及技巧；(2)數據處理軟件操作：講解X射線衍射實驗數據處理軟件Jade的基本操作方法；(3)X射線衍射傳統分析方法：物相定性分析、定量分析、結晶度、點陣常數精確測量、晶粒尺寸與微觀應變、殘余應力計算；(4)Rietveld全譜擬合精修方法：通過Jade的精修

反射高能電子衍射作為一種新型的表面分析工具，是隨著超高真空薄膜制備系統的發展與完善，而應用于薄膜生長中的測試分析中。《反射高能電子衍射在薄膜生長中的表面分析》基于表面物理與晶體衍射的原理，重點介紹了反射高能電子衍射的應用手段，包括其基本原理、標定、定量分析、強度振蕩以及最新的相關進展。

本書是高分辨電子顯微學和圖像處理方面的專著，共分三篇，第一篇介紹了運動學和動力學衍射理論、各類電子衍射花樣、晶體對稱性的會聚束電子衍射測定、晶體結構的衍射分析方法，以及基于動力學電子衍射的晶體結構因子精確測定；第二篇介紹了高分辨電子顯微像的成像原理、像襯度及其近似理論、像的理論計算以及借助高分辨電子顯微像測定晶體結構的模型法；第三篇簡單介紹了高分辨電子顯微像的各種圖像處理方法，著重于高分辨電子顯微

電子背散射衍射（簡稱EBSD）技術是基於掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發出的衍射菊池帶的分析確定晶體結構、取向及相關信息的方法。 本書系統地闡述了。EBSD技術的含義、特點（或優勢）及應用領域；簡述了EBSD技術的發展過程和在我國的應用現狀，以及與其他相關測試技術的比較；介紹了與EBSD技術相關的晶體學知識和晶體取向（織構）的基本知識；以及EBSD測定分析過程中涉及的原理和相關硬件，EBSD數

《X射線結構分析》由兩部分組成：第一章至第五章重點闡述X射線衍射的基本理論，第六章至第十章主要介紹X射線衍射的研究方法和實際應用。書中各章節既相互關聯，又自成體系，內容由淺人深、簡捷明了、便于自學。書中引述了近些年來國內外最新的研究成果及有關數據資料，并附有必要的圖表和計算公式。《X射線結構分析》可以作為大學本科生、研究生的教學用書，并可作為地質、巖礦、材料、理化等相關專業科技人員的參考書。

《粉末多晶X射線衍射技術原理及應用》共分12章，側重於講述衍射技術的應用。第1章和第2章為晶體學和X射線衍射原理，第3章和第4章為X射線衍射設備及衍射數據，第5章為計算機在多晶衍射技術中的應用，第6章為x射線物相定性和定量分析方法，第7章為X射線的小角度衍射介紹，第8章為晶體點陣的測試原理與方法，第9章為結晶度的測試原理與計算方法，第10章為X射線衍射技術測定宏觀應力，第11章為Rietveld方