三民網路書店 / 搜尋結果

《材料現代分析技術》主要介紹材料三大要素：結構、形貌和成分的分析技術及其他相關分析技術。結構分析技術主要為衍射技術，包括晶體的投影與倒易點陣、X射線的物理基礎、單晶體和多晶體X射線衍射原理、分析及其應用、電子衍射（高能電子衍射TEM、HRTEM和低能電子衍射LEED）、電子背散射衍射EBSD和中子衍射ED等。形貌分析技術包括掃描電子顯微鏡SEM、掃描透射電子顯微鏡STEM、掃描隧道顯微鏡STM及原子力顯微鏡AFM。成分分析技術主要包括特徵電子能譜（俄歇電子能譜AES和X射線光電子能譜XPS）、特徵X射線能譜（電子探針EDS）、熒光X射線能譜XRFS及光譜分析（原子光譜、分子光譜等）。其他分析技術簡要介紹熱分析技術，包括熱重分析TGA、差熱分析DTA和差示掃描量DSC熱分析。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、復合材料等。書中對每章內容作了提綱式的小結，並附有適量的思考題。書中采用了一些作者尚未發表的圖片和曲線，同時在實例分析中還注重引入了一些當前材料界近期新的研究成果。《材料現代分析技術》可作為高等學校材料科學與工程學科本科生的學習用書，也可供相關專業的研究生、教師和科技工作者使用。

1898年，年僅25歲的芬蘭學者在伏爾加河流域開始了他人生的第一次考察旅行。在此后15年的時間里，他總共

《材料X射線分析技術》為工業和信息化部“十四五”規劃教材，主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中，結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內應力分析、點陣常數的測量與熱處理分析等；形貌分析技術即三維X射線顯微成像分析；成分分析技術包括特徵X射線能譜、X射線光電子能譜及X射線熒光光譜等。《材料X射線分析技術》研究和測試的材料主要包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、複合材料等。《材料X射線分析技術》對每章內容做了提綱式的小結，並附有適量的思考題。《材料X射線分析技術》採用一些作者尚未發表的圖，同時在實例分析中引入一些當前材料領域最新的研究成果。