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165反詐騙

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商品類型
原文書 （3）
商品狀況
可訂購商品 （3）
庫存狀況
無庫存 （3）
商品定價
$800以上 （3）
出版日期
2016年以前 （3）
裝訂方式
平裝 （2）
作者
Edited by Hans-Joachim L. Gossmann 、Tony E. Haynes 、Mark E. Law 、Arne Nylandsted Larsen 、Shinji Odanaka （1）
Edited by Matthew Libera 、Tony E. Haynes 、Peggy Cebe 、James E. Dickinson、Jr （1）
Matthew Libera (EDT)/ Tony E. Haynes (EDT)/ Peggy Cebe (EDT)/ James E. Dickinson Jr. (EDT) （1）
出版社/品牌
CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS （1）
Cambridge Univ Pr （1）
Cambridge University Press （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共3筆商品，1/1頁
Crystallization and Related Phenomena in Amorphous Materials
滿額折
1.

Crystallization and Related Phenomena in Amorphous Materials

作者：Matthew Libera (EDT); Tony E. Haynes (EDT); Peggy Cebe (EDT); James E. Dickinson Jr. (EDT)  出版社：Cambridge Univ Pr  出版日：2014/06/05 裝訂：平裝
定價：1620 元， 優惠價：9 1458
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Crystallization and Related Phenomena in Amorphous Materials：VOLUME321
90折
2.

Crystallization and Related Phenomena in Amorphous Materials：VOLUME321

作者：Edited by Matthew Libera ; Tony E. Haynes ; Peggy Cebe ; James E. Dickinson; Jr  出版社：Cambridge University Press  出版日：1994/03/23 裝訂：平裝
A compilation of some 100 papers presented during a symposium on crystallization held as part of the 1993 Fall Meeting of the MRS in Boston. The volume is divided into eight sections: the structure of
定價：1845 元， 優惠價：9 1661
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Si Front-End Processing：Physics and Technology of Dopant-Defect Interactions：VOLUME568
滿額折
3.

Si Front-End Processing：Physics and Technology of Dopant-Defect Interactions：VOLUME568

作者：Edited by Hans-Joachim L. Gossmann ; Tony E. Haynes ; Mark E. Law ; Arne Nylandsted Larsen ; Shinji Odanaka  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：1999/07/26 裝訂：平裝
The 42 papers address the problem that ion implantation, silicidation, and annealing treatments in various ambients influence the silicon native point-defect population in characteristic ways, so that
定價：1665 元， 優惠價：9 1499
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
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