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Edited by Michael Mastro 、Jeffrey LaRoche 、Fan Ren 、Jen-Inn Chyi 、Jihyun Kim (1)

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Performance and Reliability of Semiconductor Devices:VOLUME1108

1.Performance and Reliability of Semiconductor Devices:VOLUME1108

作者:Edited by Michael Mastro ; Jeffrey LaRoche ; Fan Ren ; Jen-Inn Chyi ; Jihyun Kim  出版社:CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日:2009/04/08 裝訂:平裝
Papers from a winter 2008 symposium, held at the MRS Fall Meeting in Boston, present recent results from universities, national laboratories, and industries, concentrating on fundamental materials and
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