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出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Ben J. M. Ale (EDT)/ Ioannis A. Papazoglou (EDT)/ Enrico Zio (EDT) (1)
出版社/品牌

Taylor & Francis (1)

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Reliability, Risk and Safety - Back to the Future
作者:Ben J. M. Ale (EDT); Ioannis A. Papazoglou (EDT); Enrico Zio (EDT)  出版社:Taylor & Francis  出版日:2010/08/25 裝訂:精裝
Reliability, Risk and Safety: Back to the Future covers topics on reliability, risk and safety issues, including risk and reliability analysis methods, maintenance optimization, human factors, and ris
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