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聚焦離子束（FocusedIonBeam，FIB）是微納加工、芯片失效分析、微結構科學研究的核心技術裝備之一。隨著材料、器件的微尺度化（納米甚至原子尺度）、高集成化（每平方釐米集成10億個以上的功能單元）、多功能化（在多種外場條件下工作），越來越多的材料微結構研究、器件研發須使用聚焦離子束。全書共分七章，從聚焦離子束的結構原理出發，緊密結合應用與實踐，對聚焦離子束誘導沉積、濺射刻蝕、離子注入、離子束曝光、聯合使用模式以及樣品的前期處理進行闡述，並配有實際案例進行進一步詳解。

《電子顯微分析實驗指導》涵蓋了電子顯微鏡分析的各個實驗內容，包括掃描電子顯微鏡（能譜和電子背散射衍射附件）、電子探針、聚焦離子束、透射電子顯微鏡（原位表徵方法）等內容。全書共5章、22個實驗，著重描述了各個設備的原理、應用案例和實驗操作過程等。第1章介紹掃描電子顯微鏡和電子探針的結構、原理及操作；第2章介紹掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作；第3章介紹聚焦離子束系統結構、工作原理及應用操作；第4章介紹透射電子顯微鏡結構、原理及基本應用操作；第5章介紹透射電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作。 《電子顯微分析實驗指導》可作為高等院校相關專業的電子顯微分析課程的實驗指導書，也可供科研部門及生產單位從事分析檢測方面工作的技術人員參考使用，亦可為材料、化工、能源等領域的微觀結構分析測試表徵技術提供參考。 《電子顯微分析實驗指導》特點： 院士專家著書，體現先進性，前瞻性，反映材料領域的研究成果 學科融合貫通，注重交叉性，學術性，立足材料科學的人才培養 內容豐富翔實，追求研究性，實用性，促進材料工程的創新發展