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作者


伍秀菁 (1)
伍秀菁、汪若文 (1)
伍秀菁、汪若文、林美吟 (1)
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國家實驗研究院 (4)

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4筆商品,1/1頁
光學元件精密製造與檢測

1.光學元件精密製造與檢測

作者:伍秀菁  出版社:國家實驗研究院  出版日:2007/05/01 裝訂:平裝
本中心所編纂之「光學元件精密製造與檢測」一書邀集了產、學界五十餘位專家學者共同執筆撰寫。全書共有十七章、六百餘頁,從光學系統及基礎光學設計開始,介紹光學材料特性,以及相關國際光學元件製圖標準,並詳述各類加工製造技術與檢測方法,進而以實例廣泛介紹光學元件的應用,最後則深入探討光學元件的遠景及未來發展。
缺貨無法訂購
光學元件精密製造與檢測

2.光學元件精密製造與檢測

作者:國家實驗研  出版社:國家實驗研究院  出版日:2007/05/01 裝訂:精裝
本中心所編纂之「光學元件精密製造與檢測」一書邀集了產、學界五十餘位專家學者共同執筆撰寫。全書共有十七章、六百餘頁,從光學系統及基礎光學設計開始,介紹光學材料特性,以及相關國際光學元件製圖標準,並詳述各類加工製造技術與檢測方法,進而以實例廣泛介紹光學元件的應用,最後則深入探討光學元件的遠景及未來發展。
缺貨無法訂購
奈米檢測技術
滿額折

3.奈米檢測技術

作者:伍秀菁; 汪若文  出版社:國家實驗研究院  出版日:2009/04/01 裝訂:平裝
國家實驗研究院儀器科技研究中心策劃,針對奈米科技在各領域的應用,編撰出版《奈米檢測技術》專書。全書共九章、六百餘頁,內容架構係以整體奈米科技為開端,接續介紹在奈米尺度下如何檢測各種元件和材料奈米結構所具備之力、光、電、磁等性質、儀器設備與關鍵技術,最後則以具前瞻性的奈米檢測技術作為未來的展望。
定價:800 元, 優惠價:95 760
無庫存,下單後進貨(採購期約4~10個工作天)
光機電系統整合概論
滿額折

4.光機電系統整合概論

作者:伍秀菁; 汪若文; 林美吟  出版社:國家實驗研究院  出版日:2005/07/01 裝訂:平裝
第一章介紹系統概論,談到光機電技術的歷史、技術、應用及產業。第二章介紹光學,談到其基本原理、元件製作、基礎量測。第三章介紹光電轉換與整合。第四章介紹機電整合。第五章介紹光機整合。第六章談到系統整合設計與模擬。第七章系統組裝及檢測。第八章介紹實例。第九章介紹遠景與未來展望。
定價:750 元, 優惠價:95 713
無庫存,下單後進貨(採購期約4~10個工作天)

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