分析化學（簡體書）

原子吸收法是一種干擾很小的檢測方法，AAS中干擾效應按其性質和產生的原因，可以分為五類：光譜干擾、物理干擾、化學干擾、電離干擾和有機溶劑的影響。下面分別介紹。
9.5.1光譜干擾及消除
光譜干擾是指與光譜發射及吸收有關的干擾，主要有譜線干擾和背景吸收所產生的干擾。包括譜線重疊、光譜通帶內存在非吸收線、分子吸收、光散射等。前兩種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射的影響，它們是形成光譜背景的主要因素。
光譜干擾主要來自光源和原子化器，也與共存元素有關。其消除方法主要有：減小狹縫寬度、更換空心陰極燈、改變火焰、更換譜線等。
（1）譜線干擾
譜線干擾包括兩種情況。
①光譜通帶內存在非吸收線（即吸收線與相鄰譜線不能完全分開），導致A下降。例如：Ni空心陰極燈的發射譜線中，在鎳的分析線（232.0nm）附近還有許多條鎳的發射線，由于這些譜線不被鎳吸收，若進入光譜通帶后，導致測定靈敏度下降，工作曲線向濃度軸彎曲。
消除辦法：減小狹縫寬度，除去非吸收線。
②待測元素分析線與共存元素的吸收線重疊，導致A增大。
消除辦法：采用其他分析線。
（2）光譜背景干擾
光譜背景干擾包括分子吸收和光散射。這兩種干擾都可使吸收值A增大，產生正誤差。分子吸收干擾是指在原子化過程中生成的氣態分子對光源共振輻射的吸收而引起的干擾，它是一種帶吸收。可采用高溫使分子離解來消除。例如：無機酸中H2S0。和H3P04在波長小于250·0nm時有很強的分子吸收，因此試樣處理時若需要酸處理應盡量避免使用這兩種酸，可用HCl、HNOs；光散射是指在原子化過程中，產生的固體顆粒對光產生散射，使被散射的光偏離光路而不能被檢測器檢測，形成假吸收，導致A增大。
這種背景吸收在各種原子化方式中均存在，只是程度不同。一般在火焰法中，除短波紫外區外，普遍較小，可采用儀器調零除去。非火焰法以及火焰法的短波紫外區則必須使用背景校正裝置予以消除。背景校正方法如下。
①用鄰近非共振線校正背景 當背景分布比較均勻時，可以認為與分析線鄰近的非共振線的吸收與分析線的背景吸收近似相等。用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，而非共振線不產生原子吸收，用它來測量背景吸收的吸光度，兩次測量值相減即得到校正背景之后的原子吸收的吸光度。例：鎳的共振線232.0nm附近有非共振線231.6nm，可在232·0nm測定鎳的原子吸收和背景吸收的總和（A+△A），然后在231.6nm測定背景吸收（△A），兩者之差即為鎳的吸光度。
用于測量背景吸收的鄰近線可以是待測元素的，也可以是其他元素的譜線。