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目次
書摘/試閱
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現代光學測試技術研究領域包括光干涉技術、光衍射技術、光偏振技術、光全息技術、光掃描技術、光散斑技術、莫爾技術、光譜技術、光纖技術，等等。本書涉及內容除基本光學測量技術外，主要以光干涉測試技術為主，介紹了各種光學量的測試原理及測試方法。
《現代光學測試技術》共11章。第一、二章系統地介紹了現代光學測試技術的基本理論及其發展；第三章介紹了光學材料及其基本參數的測試問題；第四章系統介紹了幾種常用的典型干涉儀；第五章是光電相位探測技術；第六、七章分別介紹了平面元件與球面元件測試技術．；第八章介紹了非球面測試技術的基本知識及測試方法；第九章介紹了干涉測長技術；第十章介紹了莫爾條紋測量技術；第十一章介紹了光學系統成像質量評價方法。
《現代光學測試技術》具有理論與實踐密切結合、論述系統深入的特點，可作為相關專業的研究生教材，也可供相關工程技術人員作為設計光學測試系統的參考資料。
《現代光學測試技術》共11章。第一、二章系統地介紹了現代光學測試技術的基本理論及其發展；第三章介紹了光學材料及其基本參數的測試問題；第四章系統介紹了幾種常用的典型干涉儀；第五章是光電相位探測技術；第六、七章分別介紹了平面元件與球面元件測試技術．；第八章介紹了非球面測試技術的基本知識及測試方法；第九章介紹了干涉測長技術；第十章介紹了莫爾條紋測量技術；第十一章介紹了光學系統成像質量評價方法。
《現代光學測試技術》具有理論與實踐密切結合、論述系統深入的特點，可作為相關專業的研究生教材，也可供相關工程技術人員作為設計光學測試系統的參考資料。
名人/編輯推薦
《現代光學測試技術》既注重基礎理論和實用性，又注意選擇了領域內有重要應用價值的光學測試新技術，其中不少的內容是作者多年來的研究成果，因而使內容既拓展了知識面，又呼應了現代光學測試技術的發展趨勢，保持了教材的先進性。《現代光學測試技術》可作為相關專業的研究生教材，也可供相關工程技術人員作為設計光學測試系統的參考資料。
目次
前言
第一章現代光學測試技術綜述
第一節研究領域及技術特徵
第二節現代光學測試技術的現狀與應用
第三節光學測試方法的選取原則
第四節現代光學測試技術的發展趨勢
參考文獻
第二章光具座上的綜合檢測
第一節測量中的對準技術與調焦技術
第二節光學測試裝置的基本部件及其組合
第三節焦距和頂焦距的測量
參考文獻
第三章光學材料測試
第一節光學玻璃材料概述
第二節光學玻璃折射率測量
第三節光學玻璃光學均勻性測量
第四節光學玻璃應力雙折射測量
參考文獻
第四章基本的光干涉測量技術
第一節干涉條紋的分析判讀及波面質量評價
第二節幾種典型的干涉儀
第三節波面錯位干涉測量
第四節干涉圖分析與波面擬合
第五節波像差及其測量
參考文獻
第五章光電相位測量技術
第一節相位的靜態測試技術
第二節相位的動態測試技術
參考文獻
第六章平面元件測試技術
第一節平面元件基本量測量
第二節平面光學元件面形偏差檢測
第三節平面光學元件光學平行度測量
參考文獻
第七章球面元件測試技術
第一節球面曲率半徑測量
第二節球面光學元件面形偏差檢測
參考文獻
第八章非球面測試技術
第一節非球面的基本知識
第二節非球面面形測試方法
參考文獻
第九章干涉測長技術
第一節高精度量塊測量技術
第二節激光干涉測長
參考文獻
第十章莫爾條紋技術
第一節莫爾條紋形成原理
第二節莫爾條紋測量技術
參考文獻
第十一章光學系統評價
第一節光學系統成像質量評價方法概述
第二節分辨率測試
第三節成像質量評價的星點檢驗法
第四節光學傳遞函數
第五節干涉測量
參考文獻
第一章現代光學測試技術綜述
第一節研究領域及技術特徵
第二節現代光學測試技術的現狀與應用
第三節光學測試方法的選取原則
第四節現代光學測試技術的發展趨勢
參考文獻
第二章光具座上的綜合檢測
第一節測量中的對準技術與調焦技術
第二節光學測試裝置的基本部件及其組合
第三節焦距和頂焦距的測量
參考文獻
第三章光學材料測試
第一節光學玻璃材料概述
第二節光學玻璃折射率測量
第三節光學玻璃光學均勻性測量
第四節光學玻璃應力雙折射測量
參考文獻
第四章基本的光干涉測量技術
第一節干涉條紋的分析判讀及波面質量評價
第二節幾種典型的干涉儀
第三節波面錯位干涉測量
第四節干涉圖分析與波面擬合
第五節波像差及其測量
參考文獻
第五章光電相位測量技術
第一節相位的靜態測試技術
第二節相位的動態測試技術
參考文獻
第六章平面元件測試技術
第一節平面元件基本量測量
第二節平面光學元件面形偏差檢測
第三節平面光學元件光學平行度測量
參考文獻
第七章球面元件測試技術
第一節球面曲率半徑測量
第二節球面光學元件面形偏差檢測
參考文獻
第八章非球面測試技術
第一節非球面的基本知識
第二節非球面面形測試方法
參考文獻
第九章干涉測長技術
第一節高精度量塊測量技術
第二節激光干涉測長
參考文獻
第十章莫爾條紋技術
第一節莫爾條紋形成原理
第二節莫爾條紋測量技術
參考文獻
第十一章光學系統評價
第一節光學系統成像質量評價方法概述
第二節分辨率測試
第三節成像質量評價的星點檢驗法
第四節光學傳遞函數
第五節干涉測量
參考文獻
書摘/試閱
傳統的透射式補償器有：offner補償器和hindle補償器。一般的傳統補償器根據被測非球面的形狀制成單片或多片的形式。因此透射式的補償器比較復雜，對其本身的精密度的要求也很高，這是因為補償器的精度應該高于被測鏡的精密度。同時高精密補償器的成本很高，這由于用以上2種補償器測量非球面所需要的校正器和測試板與被測鏡要同樣大小。補償器不僅在制作精度上要求很高，在裝調過程中相對位置也要求非常精確，稍有偏差，就會對檢測結果造成很大影響。Hubble望遠鏡就是因為檢測時補償鏡的位置有誤差，導致拋光過程中主鏡的二次項系數有誤，造成巨大損失。因此研究者的目光越來越多的投入到了衍射式補償器。
（2）全息衍射光學元件補償法。
由于透鏡補償方法的存在的客觀問題，近年來使用衍射光學元件檢測大口徑非球面方法得到了廣泛的關注。衍射光學元件法主要是指光學全息法和計算全息法（computer-generatedhologram，簡稱CGH）。光學全息法用于檢測非球面是于1966年提出的。由全息干涉檢測原理可知，采用這種方法必須有高精度的參考非球面實體，并且高精度全息圖的制作也很困難，于是出現了用計算全息圖檢測非球面的方法。
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