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出版日期


2016年以前 (1)

裝訂方式


平裝 (1)

作者


唐經洲、張克正 (1)

出版社/品牌


滄海 (1)

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奈米CMOS電路可生產性與良率設計
滿額折

1.奈米CMOS電路可生產性與良率設計

作者:唐經洲; 張克正  出版社:滄海  出版日:2010/08/01 裝訂:平裝
當我們開始面對32nm CMOS 技術節點,負責設計與製造領域的人們也正努力於微影技術,這種技術讓所轉印出來的電路樣本可以極小於所使用的光源波長 (wave length)。這個技術必須要用到一些新材料、較好的間距、較高的冶金技術開孔率(aspect ratio metallurgies)。這個事實產生了三個可製造性上的問題,也就是: 可印製性(printability)、平坦性 (planari
定價:360 元, 優惠價:1 360
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