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基於SRAM的FPGA容錯技術(簡體書)
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基於SRAM的FPGA容錯技術(簡體書)

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商品簡介
作者簡介
目次

商品簡介

廣泛應用于民用和工業領域的基於SRAM的FPGA,因其邏輯集成度高、使用方便、開發成本低且能夠被重新編程,正逐步應用于空間領域。空間領域的應用除了要求其具有很高的可靠性以外,抗輻射是必須重點考慮的問題。本書針對這種需求,尤其是針對空間環境中單粒子效應的影響,詳細介紹了基於SRAM的FPGA這種可編程結構的多種容錯技術和方法。
本書提及的技術和方法多是從實際容錯系統中總結出來的,并進行了歸類、分析和總結,同時附有參考文獻。內容詳盡豐富,實踐性和針對性強,可作為從事容錯計算和空間電子系統研究和設計人員的參考用書。

作者簡介

費爾南達·古斯芒·德·利馬·卡斯騰斯密得,是位于巴西阿雷格里港(Porlto Alegre)的南大河洲聯邦大學(UFRGS)計算機科學系的教授。1997年,她從巴西阿雷格里港南大河洲聯邦大學獲電氣工程學學士學位,1999年和2003年分別獲計算機科學碩士學位和微電子學博士學位。1999年,她曾工作于法國的格勒諾布爾(Grenoble)國家理工學院(INPG);2001年,工作于美國聖何塞(San Jose)的賽靈思(Xilinx)公司。她的研究興趣包括超大規模集成電路(VLSI)測試和設計、故障效應、容錯技術和可編程結構。她是美國電氣和電子工程師協會(IEEE)的會員。 路易吉·卡羅,1962年出生於巴西的阿雷格里港,分別于1985年和1989年從巴西南大河洲聯邦大學獲電氣工程學學士和碩士學位。1989年~1991年,他就職于意大利阿格雷特(Agrate)的ST微電子研發小組,1996年獲巴西南大河洲聯邦大學計算機科學系的博士學位。目前他是南大河洲聯邦大學電氣工程系講師,負責向研究生和本科生講授數字系統設計和數字信號處理學科。他也是該大學計算機科學研究生計劃的成員,負責嵌入式系統、數字信號處理和VLSI設計的課程。他主要的研究興趣包括混合信號設計、數字信號處理、混合信號和模擬測試及快速系統原型。他已針對這些主題發表了90多篇專業論文,著有《數字系統設計和原型》(葡萄牙語)一書。 里卡多·賴斯,是巴西南大河洲聯邦大學信息研究所教授。1978年,他從巴西阿雷格里港南大河洲聯邦大學獲電氣工程學學士學位。1983年,他從法國格勒諾布爾國家理工學院獲計算機科學和微電子系的博士學位。他的主要研究興趣包括VLSI設計及CAD、物理設計、設計方法學和容錯技術。他在期刊和會議上發表專業論文200多篇,同時出版了一些專著。他曾任巴西計算機學會的會長,巴西微電子學會的副會長。他是國際信息處理聯盟(IFIP)的副主席曾獲IFIP的銀質獎章。他是《集成電路及系統》雜志(JICS)的主編。里卡多也是IEEE計算機設計與測試的拉美聯絡員。他還是幾個學術會議的“組織和程序”委員會委員,是“集成電路及系統設計研討會”(SBCCI)系列論壇的發起人之一。他是IEEE的會員。

目次

第1章 引言
第2章 集成電路中的輻射效應
 2.1 輻射環境概述
 2.2 集成電路中的輻射效應
2.2.1 SEU的分類
 2.3 基於SRAM的FPGA的特有影響
第3章 單粒子翻轉(SEU)減緩技術
 3.1 基於設計的技術
3.1.1 檢測技術
3.1.2 減緩技術
 3.2 ASIC中SEU減緩技術實例
 3.3 FPGA中SEU減緩技術實例
3.3.1 基於反熔絲的FPGA
3.3.2 基於SRAM的FPGA
第4章 結構層SEU減緩技術
第5章 高層SEU減緩技術
 5.1 針對FPGA的三模冗余技術
 5.2 刷新
第6章 三模冗余(TMR)的健壯性
 6.1 測試設計方法
 6.2 FPGA位流中的故障注入
 6.3 設計布局中翻轉的定位
6.3.1 矩陣中位列的位置
6.3.2 矩陣中位行的位置
6.3.3 CLB中位的位置
6.3.4 位分類
 6.4 故障注人結果
 6.5 “金”片(“Golden”Chip)方法
第7章 TMR微控制器的設計和測試
 7.1 面積和性能結果
 7.2 TMR8051微控制器輻射的地面測試結果
第8章 減少TMR開銷:第一部分
 8.1 結合時間冗余的雙備份比較
 8.2 VHDL描述中的故障注入
 8.3 面積和性能
第9章 減少TMR開銷:第二部分
 9.1 算術類電路的DWC—CED技術
9.1.1 使用基於硬件冗余的CED技術
9.1.2 使用基於時間冗余的CED技術
9.1.3 選擇最合適的CED模塊
9.1.4 故障覆蓋率結果
9.1.5 面積和性能結果
 9.2 非算術電路中的DWC-CED設計技術
第10章 總結與展望
縮寫詞中英文對照
參考文獻

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